Inline halfgeleidermetrologiesysteem QUADRA® van Nearfield Instruments uitgerust met nieuwe 'Lightning Mode™'; systeem volledig gevalideerd voor hoog-volume productie
09 juil. 2024 11h12 HE
|
Nearfield Instruments B.V.
ROTTERDAM, Nederland, July 09, 2024 (GLOBE NEWSWIRE) -- Nearfield Instruments B.V., leverancier van baanbrekende meetoplossingen voor procesbesturing voor geavanceerde halfgeleiderproducten,...
Nearfield Instruments’ QUADRA® In-Line Semiconductor Metrology System Features New ‘Lightning Mode™’; System Fully Validated for High-volume Manufacturing
09 juil. 2024 08h10 HE
|
Nearfield Instruments B.V.
Nearfield Instruments QUADRA® In-Line Semiconductor Metrology System Features New ‘Lightning Mode™’; System Fully Validated for High-volume Manufacturing
AUDIRA van Nearfield Instruments is voor de halfgeleidersector het eerste niet-destructieve inline metrologiesysteem voor ondergronden
10 juil. 2023 09h05 HE
|
Nearfield Instruments B.V.
ROTTERDAM, Nederland, July 10, 2023 (GLOBE NEWSWIRE) -- Nearfield Instruments B.V. is een leverancier van innovatieve procescontrole bij metrologie-oplossingen voor hoogwaardige...
Nearfield Instruments’ AUDIRA is the Semiconductor Industry’s First Non-Destructive, In-Line Subsurface Metrology System
10 juil. 2023 09h05 HE
|
Nearfield Instruments B.V.
ROTTERDAM, Netherlands, July 10, 2023 (GLOBE NEWSWIRE) -- Nearfield Instruments B.V., a provider of ground-breaking process control metrology solutions for advanced semiconductor devices, today...