Inline halfgeleidermetrologiesysteem QUADRA® van Nearfield Instruments uitgerust met nieuwe 'Lightning Mode™'; systeem volledig gevalideerd voor hoog-volume productie ROTTERDAM, Nederland, July 09, 2024 (GLOBE NEWSWIRE) -- Nearfield Instruments B.V., leverancier van baanbrekende meetoplossingen voor procesbesturing voor geavanceerde halfgeleiderproducten,...

Nearfield Instruments’ QUADRA® In-Line Semiconductor Metrology System Features New ‘Lightning Mode™’; System Fully Validated for High-volume Manufacturing Nearfield Instruments QUADRA® In-Line Semiconductor Metrology System Features New ‘Lightning Mode™’; System Fully Validated for High-volume Manufacturing

AUDIRA van Nearfield Instruments is voor de halfgeleidersector het eerste niet-destructieve inline metrologiesysteem voor ondergronden ROTTERDAM, Nederland, July 10, 2023 (GLOBE NEWSWIRE) -- Nearfield Instruments B.V. is een leverancier van innovatieve procescontrole bij metrologie-oplossingen voor hoogwaardige...

Nearfield Instruments’ AUDIRA is the Semiconductor Industry’s First Non-Destructive, In-Line Subsurface Metrology System ROTTERDAM, Netherlands, July 10, 2023 (GLOBE NEWSWIRE) -- Nearfield Instruments B.V., a provider of ground-breaking process control metrology solutions for advanced semiconductor devices, today...